lab2:задание23

Различия

Показаны различия между двумя версиями страницы.

Ссылка на это сравнение

Предыдущая версия справа и слева Предыдущая версия
Следующая версия 		Предыдущая версия
lab2:задание23 [2019/03/25 16:07]
root_s [Определение величины $\varphi_{m}$] 		lab2:задание23 [2019/08/21 12:08] (текущий)
root_s [Определение величины $\varphi_{m}$]
Строка 15: Строка 15:
 Общий вид вольт--амперной //теоретической// характеристики диода, построенной в полулогарифмических координатах, приведен на рис. 10.  Общий вид вольт--амперной //теоретической// характеристики диода, построенной в полулогарифмических координатах, приведен на рис. 10. 
  
-{{:lab2:pic10.png?600 |}}+{{ :lab2:pic10.png?400 |}}
  
 На участке (2), где запирание тока диода определяется потенциалом анода $U_{{а}}$, ВАХ диода в полулогарифмическом масштабе На участке (2), где запирание тока диода определяется потенциалом анода $U_{{а}}$, ВАХ диода в полулогарифмическом масштабе
Строка 25: Строка 25:
 когда $U_{a}=\varphi_{m}=\varphi*$ (см. рис. 6,~б). При увеличении потенциала анода $U_{a}>\varphi*$ запирание тока происходит не потенциалом когда $U_{a}=\varphi_{m}=\varphi*$ (см. рис. 6,~б). При увеличении потенциала анода $U_{a}>\varphi*$ запирание тока происходит не потенциалом
 анода, а более отрицательным потенциалом пространственного заряда $\varphi_{m}<U_{a}$, который можно найти через продолжение функции анода, а более отрицательным потенциалом пространственного заряда $\varphi_{m}<U_{a}$, который можно найти через продолжение функции
-(**), показанное на рис.~10 пунктиром. Участок нарастания тока в области $U_{\lyxmathsym{а}}>0,$ соответствующий \emph{закону+(**), показанное на рис.~10 пунктиром. Участок нарастания тока в области $U_{{а}}>0,$ соответствующий \emph{закону
 3/2} и дальнейшему выходу тока анода на насыщение, формулой (*) не описывается. 3/2} и дальнейшему выходу тока анода на насыщение, формулой (*) не описывается.
  
 Отклонения от прямой при больших отрицательных потенциалах, если они имеют место, связаны с погрешностями измерительной аппаратуры при Отклонения от прямой при больших отрицательных потенциалах, если они имеют место, связаны с погрешностями измерительной аппаратуры при
 измерении малых токов, наводками либо токами утечки по изоляции.  измерении малых токов, наводками либо токами утечки по изоляции. 
 +
 +Назад к [[порядок_выполнения_работы23|порядку выполнения работы]] или далее к [[контрольные_вопросы23|контрольным вопросам]]