Различия

Показаны различия между двумя версиями страницы.

--- lab4:эксперимент41 [2019/04/06 17:24]
root_s создано
+++ lab4:эксперимент41 [2019/09/10 15:53] (текущий)
root_s
@@ Строка 1: / Строка 1: @@
-Измерение проводимости полупроводника при комнатной температуре }
+Измерение проводимости полупроводника при комнатной температуре
 Схема установки для определения проводимости полупроводника при комнатной температуре показана на рисунке
@@ Строка 6: / Строка 6: @@
 При протекании в цепи образца тока $I$ на сопротивлении $R$ происходит падение напряжения, пропорциональное току $U=I\cdot R$, которое подается в канал $I$ блока регистрации. Разность потенциалов между контактами (3, 4) образца  подается  в канал $U$.  Получив вольт-амперную характеристику, зная геометрические размеры образца и его сопротивление, можно по формуле $j=\sigma E$ рассчитать проводимость полупроводника.
+Назад к описанию [[:lab4:oборудование41|оборудования и образца]] или далее к [[:lab4:контрольные_вопросы41|контрольным вопросам и заданию]]